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物理吸附与真密度分析技术突破:攻克低比表面积样品测试顽疾!
2020年09月11日 发布 分类:粉体应用技术 点击量:229
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“不同厂家或型号测出的BET值不一样;各厂家仪器之间数据不一致;同一型号,不同地域,不同海拔,数据不一致;同一台仪器,白天晚上,春夏秋冬数据不一致;同一台仪器,长期稳定性不好……”曾长期在国际知名颗粒表征仪器厂商担任要职的杨正红先生明确指出了比表面积测试顽疾所在。

粉体检测

以欧洲标准设计制造的iPore系列全自动比表面和孔径分析仪

近年来随着新能源行业快速发展,对电池正负极材料、膜材料和电子材料(包括特种氧化铝)等超低比表面积样品的分析需求也日益增多,同样低比表面积的材料还包括原料药物(API)及其辅料,银粉、不锈钢粉以及合金粉等3D打印材料等,这些材料的超低的比表面积给比表面积分析仪提出了前所未有的挑战!

比表面仪出现文章开头描述问题的原因很简单:比表面积和吸附量正相关,所以当小表面材料所能吸附样品总量不足以克服本底噪音时,就带来了测试结果的不稳定性,甚至测不出来。如何控制影响测试结果的因素,即由温度、体积和压力测量带来的误差呢?不要错过杨正红先生带来的“物理吸附和真密度分析的技术突破及其应用”报告,更不要错过“不鸣则已,一鸣惊人”的国产颗粒表征新品!

粉体圈 郜白


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